防爆(bào)網(wǎng)絡攝像機配(pèi)備了可以(yǐ)通(tōng)過(guò)USB接(jiē)口(kǒu)將攝(shè)像機中的畫麵(miàn)和(hé)聲音直接傳(chuán)送到個人電(diàn)腦(nǎo)的(dí)功(gōng)能(néng)，以(yǐ)及可以(yǐ)通過(guò)互聯(lián)網(wǎng)將(jiāng)畫(huà)麵和(hé)聲(shēng)音直(zhí)接(jiē)傳送到對方電腦的功(gōng)能。它(tā)采(cǎi)用1/3.6英寸CCD，總分辨(biàn)率為133萬像素(sù)。此外，即(jí)使(shǐ)不使用錄(lù)像帶(dài)，本產(chǎn)品(pǐn)也可(kě)以將(jiāng)MPEG4電影(yǐng)文件(jiàn)保存(cún)在(zài)“SD存儲(chǔ)卡”上。也可以將記(jì)錄在(zài)MiniDV磁(cí)帶中的電(diàn)影轉(zhuǎn)換(huàn)為MPEG4電(diàn)影文件(jiàn)並(bìng)將(jiāng)它們(mén)保(bǎo)存(cún)到(dào)SD存儲(chǔ)卡中。

 

　　今(jīn)天(tiān)我們來(lái)了解一下(xià)防(fáng)爆(bào)網絡攝像(xiàng)機可(kě)用的光(guāng)源類型(xíng)：

 

　　1，LED背光

 

　　由高(gāo)亮度，長壽命的(dí)LED發光(guāng)管組(zǔ)成，能充分(fēn)突出(chū)被(bèi)測或(huò)檢(jiǎn)測物(wù)體的輪廓信息。半導體引綫(xiàn)框(kuàng)架的尺寸(cùn)檢查(chá)，外觀(guān)和(hé)尺(chǐ)寸檢(jiǎn)查等。

 

　　2，環(huán)形(xíng)光源

 

　　是(shì)為本設備(bèi)設計的(dí)高亮度LED光(guāng)源，具有亮(liàng)度可(kě)調，低溫，均(jūn)衡，無(wú)閃爍(shuò)，無陰影，*的(dí)內(nèi)置結構。用(yòng)戶可以根(gēn)據(jù)需要添加偏光片(piàn)，以(yǐ)減(jiǎn)少光(guāng)幹擾，顯著提(tí)高圖像質量(liáng)。廣泛(fàn)應用於工(gōng)業(yè)顯(xiǎn)微鏡，電(diàn)路板(bǎn)照(zhào)明(míng)，晶圓(yuán)和(hé)工件檢測(cè)，視覺定位(wèi)等(děng)係統。

 

　　3，條狀光源

 

　　適(shì)用(yòng)於(yú)較(jiào)大被(bèi)檢物(wù)體的表(biǎo)麵(miàn)照明(míng)，可(kě)提供斜向(xiàng)照(zhào)明(míng)，從任何角度匹配物體。它在條(tiáo)狀結構中(zhōng)具有高(gāo)亮(liàng)度(dù)分布(bù)。廣(guǎng)泛應用(yòng)於表(biǎo)麵(miàn)裂紋檢測，薄膜(mó)和紙(zhǐ)質包裝破損檢測，引腳平整(zhěng)度等(děng)。，定(dìng)位標記檢測，LED缺陷(xiàn)檢(jiǎn)測等(děng)。

 

　　4，無(wú)影光源

 

　　其發(fā)出(chū)的光經半球內壁上(shàng)的漫(màn)反射鏡多次反射(shè)，實(shí)現對(duì)整個(gè)空(kōng)間(jiān)區域的漫射光(guāng)照(zhào)明。它在檢測凹凸(tū)不(bù)平的表麵方麵(miàn)起(qǐ)著(zhuó)特(tè)殊的(dí)作用，可(kě)以(yǐ)*消(xiāo)除陰影(yǐng)。主(zhǔ)要用於球(qiú)形或曲(qū)麵物體缺陷。檢(jiǎn)查，金(jīn)屬，鏡(jìng)子或(huò)玻璃等(děng)閃亮(liàng)物(wù)體的表麵(miàn)檢(jiǎn)查(chá)。

 

　　5，方形斜(xié)光(guāng)源

 

　　燈(dēng)條(tiáo)四邊布置，每邊(biān)可獨(dú)立控(kòng)製照(zhào)明(míng)和角(jiǎo)度(dù)，適應不同高度(dù)的(dí)應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)高精(jīng)度照明。主(zhǔ)要用於(yú)液(yè)晶麵板標(biāo)簽檢(jiǎn)測，QFC，SOP檢(jiǎn)測，金(jīn)屬板表麵檢(jiǎn)測(cè)等(děng)。

 

　　6，同軸光(guāng)源

 

　　光源(yuán)為(wéi)高(gāo)反射表(biǎo)麵提供(gōng)對(duì)準(zhǔn)和表(biǎo)麵(miàn)檢測照明(míng)，如(rú)金(jīn)屬表麵(miàn)，薄(báo)膜，晶圓(yuán)，薄膜和(hé)玻(bō)璃的(dí)劃(huá)痕(hén)檢(jiǎn)測(cè)，芯片和矽片(piàn)損(sǔn)傷(shāng)檢測(cè)，玻(bō)璃板(bǎn)表麵(miàn)損(sǔn)傷，PC主板(bǎn)圖(tú)形(xíng)檢(jiǎn)測，圖形(xíng)檢測印版等